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實(shí)際工況模擬失效分析系統(tǒng)供應(yīng)，對(duì)于瓷絕緣子材質(zhì)在直流電壓下的老化成因，有人認(rèn)為，瓷質(zhì)中的堿金屬離子，特別是Na”離子在遷移過(guò)程中由于獲得電子而形成體積比離子體積大兩倍的原子，局部膨脹應(yīng)力致使絕緣子破裂主要出現(xiàn)。

實(shí)際工況模擬失效分析系統(tǒng)在模擬絕緣子實(shí)際工作環(huán)境下的老化性能綜合試驗(yàn)方面主要包括:大氣環(huán)境的污垢(防塵試驗(yàn))、降雨(淋雨試驗(yàn))、太陽(yáng)輻射(光照老化試驗(yàn))、放電(局放試驗(yàn))、高溫高濕(高低溫交變濕熱試驗(yàn))、大氣中腐蝕性成分老化(復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn))等。