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簡要描述：ZJD高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀適用于絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
產(chǎn)品型號：ZJD-C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-27訪 問 量： 2159詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,建材,電子,交通 |
產(chǎn)品適用范圍
適用于絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
特點(diǎn)
●雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
●雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
●雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
●自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動測量。
●全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
●DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的幅度的高穩(wěn)定。
●計算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路0優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至0低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
●電感測試時，設(shè)備自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能，提高了電感值（特別是小電感值）測量的精度。此功能為北京智德創(chuàng)新公司生產(chǎn)的Q表。
技術(shù)參數(shù)
ZJD高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
型號 | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 100KHZ-160MHz |
信號源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 1600:1 |
信號源頻率精度 6位有效數(shù) | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% | <5% | <5% |
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <5% | <5% | <5% |
調(diào)諧電容 | 主電容30-500pF | 主電容30-500pF | 主電容17-240pF |
電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
調(diào)諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點(diǎn)搜索 | 自動掃描 | 自動掃描 | 自動掃描 |
Q合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 | 自動/手動 | 自動/手動 |
LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測試引線電感的 自動扣除功能 (*) | 有 | 有 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能 | 測量值可達(dá)2.5uF | 測量值可達(dá)2.5uF | 測量值可達(dá)25nF |
結(jié)構(gòu)概述
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)的主機(jī)則是一臺阻抗測量設(shè)備（高頻Q表）。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。
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